会员 | “集成电路芯片的ESD防护与电离辐射损伤分析”研讨活动成功举办
2018.05.25 浏览：1670 资讯来源：深智联
2018年5月24日，由国家“芯火”平台深圳微纳集成电路与系统应用研究院、南方科技大学共同组织的主题研讨活动“集成电路芯片的ESD防护与电离辐射损伤分析”在南方科技大学行政楼成功举办。
受微纳研究院的邀请，本次研讨由陈春章博士主讲。陈春章博士是集成电路芯片设计与电子设计自动化(EDA)专家，英国 St Andrews 大学辐射物理学博士，曾出版《混合信号设计方法学指导》(中文翻译，科学出版社，2015年)、《数字集成电路物理设计》(科学出版社，2008年)、英文集成电路设计文章10多篇及英文辐射物理科学研究专业文章文摘30多篇。
陈春章博士在报告中讲了导致芯片产品失败的主要原因和可靠性问题、分析了芯片ESD的防护和电离辐射损伤问题、介绍了电离辐射的计算并与与会者进行了交流。在最后，陈春章博士表示希望自己今天的报告能给从事芯片行业的研发者带来更多的研究灵感。